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三坐標探頭 雷尼紹tp200價(jià)格

TP200:具有模塊交換功能的超小型應變片式測頭

特性與優(yōu)點(diǎn) 應變片技術(shù)具有*的重復性和準確的三維輪廓測量 零復位誤差 無(wú)各向同性影響 六向測量能力 測針測量距離達100 mm（GF測針） 快速測頭模塊交換，無(wú)需重新標定測尖 壽命 >1000萬(wàn)次觸發(fā)

雷尼紹提供品種齊全、具有理想性?xún)r(jià)比的系統，既可在手動(dòng)坐標測量機上進(jìn)行簡(jiǎn)單的性能檢測，也可在數控高速機器上進(jìn)行復雜輪廓測量。

觸發(fā)式測頭測量離散的點(diǎn)，是檢測三維幾何工件的理想選擇。

雷尼紹提供品種齊全、具有理想性?xún)r(jià)比的系統，既可在手動(dòng)坐標測量機上進(jìn)行簡(jiǎn)單的性能檢測，也可在數控高速機器上進(jìn)行復雜輪廓測量。

TP200 / TP200B測頭本體

TP200采用微應變片傳感器，實(shí)現優(yōu)異的重復性和準確的三維輪廓測量，即使配用長(cháng)測針時(shí)也不例外。

傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問(wèn)題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。

TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長(cháng)測針所引發(fā)的誤觸發(fā)問(wèn)題。

請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針。

附件：

TP200測針模塊

測針模塊通過(guò)高重復性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭過(guò)行程保護功能。

有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的過(guò)行程測力。