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新型 PH20 5軸測座

將您的CMM檢查時(shí)間多增加三倍！
Renishaw的新PH20測座使用快速、無(wú)限、旋轉定位和*的“頭部接觸”功能，在CMM移動(dòng)小的情況下，可將觸摸觸發(fā)檢查吞吐量提高三倍。

PH20五軸觸控觸發(fā)系統
PH20*的“頭部接觸”允許只移動(dòng)頭部而不是CMM結構來(lái)獲取測量點(diǎn)。僅使用頭部的快速旋轉運動(dòng)，可以更快地獲取點(diǎn)，并提高精度和可重復性。此外，五軸運動(dòng)消除了花在分度頭上的時(shí)間。與傳統探測系統相比，這些速度的增加通常會(huì )使吞吐量提高3倍。

新的PH20測座設計用于工業(yè)標準TP20觸摸觸發(fā)探頭，通過(guò)優(yōu)化測量平臺的工作體積，*將五軸檢測能力引入更小的CMM。PH20可用于新的CMM，以及使用柄或套筒安裝的改裝機器。它可以使用現有的大多數檢查程序，無(wú)需修改，也不需要壓縮空氣。

方便從任何角度訪(fǎng)問(wèn)功能
PH20的無(wú)限定位能力保證了**的功能訪(fǎng)問(wèn)，大限度地減少了觸針的變化。5軸同步運動(dòng)允許在CMM上測量較大的零件，方法是將零件周?chē)D所需的空間小化。PH20自動(dòng)與零件坐標系對齊，避免觸針碰撞和對準確夾具的要求。
更快的校準
針對ph20開(kāi)發(fā)的*“推斷校準”技術(shù)確定了單次操作中的頭部方向和探頭位置，允許在任何頭部角度下進(jìn)行后續測量。其他模塊在使用前只需要在校準球體上進(jìn)行一些接觸。（如果需要，可通過(guò)在特征方向校準探針頭來(lái)提高計量性能。）隨著(zhù)定期重復校準過(guò)程以符合質(zhì)量程序或在探針碰撞之后，這些顯著(zhù)的時(shí)間節省會(huì )累積起來(lái)。