霍梅爾-埃達米克hommel w10粗糙度儀
供貨范圍
霍梅爾-埃達米克W10
商品號1006 5263
W10主機
口LV17進(jìn)給單元
口粗糙度測頭T1E
口測頭保護
口用于直徑大于10 mm的小型軸類(lèi)件的V型支撐塊
口USB電纜
口電源適配器90-240V
口粗糙度標準塊
口內六角扳手
口廠(chǎng)方驗收證書(shū)
口粗糙度標準塊數據紙
口操作說(shuō)明書(shū)
口手提箱
品牌:德國霍梅爾hommel | 型號:Hommel-Etamic W10 | 產(chǎn)地類(lèi)別:進(jìn)口 |
類(lèi)別:表面粗糙度儀 | 類(lèi)型:手持式 | 測量范圍:320μm (-210/+110 μmm) |
霍梅爾-艾達米克 Hommel-Etamic W10
Hommel-Etamic W10 適可用于任何位置測量的便攜式粗糙度儀,用于橫向探測、架空位置和垂直位置的移動(dòng)式粗糙度測量,借助移動(dòng)式 HOMMEL-ETAMIC W10 測量?jì)x,您可以用無(wú)線(xiàn)方式測量工件,清晰的測量結果始終顯示在寬大的觸摸屏上。Hommel-Etamic W10 測量?jì)x非常適合用于進(jìn)行移動(dòng)式粗糙度測量,讓您可以在生產(chǎn)過(guò)程本身中監測工件的表面質(zhì)量。這款實(shí)用的測量系統具有廣泛的功能。它在橫向探測期間以及架空位置和垂直位置中提供可靠且精密的測量。集成的粗糙度標準支持快速測試測量?jì)x,確保始終獲得非常高的精密度。
Hommel-Etamic W10 可用于任何測量位置的便攜式粗糙度測量?jì)x:橫向測量,仰測,小型軸類(lèi)件的移動(dòng)式測量,通過(guò)支撐腳調節高度,垂直測量。大規模的彩色觸摸屏,使用預設測量程序操作,清晰顯示帶公差的測量結果。V型槽用于可靠定位小型軸類(lèi)件,帶測量位置照明的測頭保護裝置。一體化的粗糙度標準塊,無(wú)線(xiàn)給進(jìn)單元帶藍牙技術(shù),保證粗糙度測量的安全與便攜。
主要功能特征:
移動(dòng)式:不依賴(lài)電源,帶無(wú)線(xiàn)纜式進(jìn)給設備,可在實(shí)際運行中靈活使用
簡(jiǎn)單式:通過(guò)觸屏進(jìn)行直觀(guān)現代的操作
完整式:測量所有符合標準的常見(jiàn)粗糙度特征參數
單一式:顯示結果包含公差評估和表面截面
實(shí)用:內置打印機可及時(shí)記錄測量結果
安全:通過(guò)內置粗糙度標準即時(shí)檢查測量?jì)x
舒適:LV17 的內置充電器外殼
多樣:橫向掃描、冒頭或垂直測量
技術(shù)參數:
測量范圍 | 320μm (-210/+110 μmm) |
測頭 | 滑軌式感應測頭T1E2 μm/90 |
測量單位 | μm/μinch 之間可選 |
大測量長(cháng)度 | 17.5mm |
ISO/JIS標準的探測距離 | 1.5/4.8/15mm |
MOTIF法的探測距離 | 0.64 /3.2 /16 mm |
截止波長(cháng) | 0.08 /0.25 /0.8 /2.5 mm |
取樣長(cháng)度數量 | 1至5之間選擇 |
濾波器 | DIN EN ISO 11562標準: 高斯濾波器 DIN EN ISO 16610-21標準: 高斯濾波器 DIN EN IS0 13565-1標準: 用于Rk特性參數的濾波器 DIN EN ISO 3274標準: 入s濾波器 |
| 0.15/0.5/1mm/s; 返回速度3mm/s |
DIN EN ISO 4827標準的特性參數 | Ra,Rz,Rmax,Rt,Rq,RSm,Rp,Rv,Rq,Rsk,Rku,Rdc,Rdq, RzIS0,Rmr,Rmr(c),C(Rmr),Pt,Pz Pa |
DIN EN I50 13565-1和-2標準的特性參數 | Rk.Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rpk*.Rvk* |
篤摯儀器(上海)有限公司主營(yíng)檢測儀器設備有:
==>>德國菲希爾 Helmut FISCHER X射線(xiàn)鍍層測厚儀、便攜式涂鍍層測厚儀;
==>>英國泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測量?jì)x;
==>>德國馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測量?jì)x、千分尺、卡尺;
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==>>美國GE無(wú)損檢測超聲波探傷儀、超聲波測厚儀;
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==>>英國雷尼紹Renishaw三坐標測量機測頭測針、機床測頭、位置編碼器、光柵、激光尺;
==>>德國Fraunhofer-IZFP無(wú)損檢測技術(shù)研究所 淬火層厚度無(wú)損測量系統;
==>>美國FLIR熱成像系統、夜視系統、紅外熱像儀、紅外探測器;
==>>美國奧林巴斯Olympus超聲波測厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀;
==>>TRIMOS測長(cháng)儀、測高儀、萬(wàn)能測長(cháng)機;
==>>杭州思看科技三維掃描儀.