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產(chǎn)品名稱:
minitset735 fn1.5膜厚儀現(xiàn)貨特惠價(jià)
發(fā)布時(shí)間:
2024-09-03
產(chǎn)品品牌:
ElektroPhysik/德國(guó)EPK
產(chǎn)品特點(diǎn):
minitset735 fn1.5膜厚儀現(xiàn)貨特惠價(jià)
德國(guó)epk測(cè)厚儀,*小型手持式涂鍍層測(cè)厚儀,磁感應(yīng)和渦流原理兼容性,自動(dòng)識(shí)別基材并切換到相應(yīng)的原理進(jìn)行測(cè)量,minitest735測(cè)厚儀有助于對(duì)鐵磁基板上的非磁性材料和絕緣涂層進(jìn)行無(wú)損涂層測(cè)量。
  minitset735 fn1.5膜厚儀現(xiàn)貨特惠價(jià)的詳細(xì)資料:

minitset735 fn1.5膜厚儀現(xiàn)貨特惠價(jià)

德國(guó)epk測(cè)厚儀,*小型手持式涂鍍層測(cè)厚儀,磁感應(yīng)和渦流原理兼容性,自動(dòng)識(shí)別基材并切換到相應(yīng)的原理進(jìn)行測(cè)量,minitest735測(cè)厚儀有助于對(duì)鐵磁基板上的非磁性材料和絕緣涂層進(jìn)行無(wú)損涂層測(cè)量。 該配置帶有一個(gè)外部F5型探頭,其測(cè)量范圍為5.0毫米/ 200mils。MiniTest 735符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì),其圓形形狀使MiniTest儀器菀美地適合您的手掌。 它還具有測(cè)量速度設(shè)置選項(xiàng),可以根據(jù)不斷變化的要求進(jìn)行調(diào)整,以實(shí)現(xiàn)更高的效率和更好的生產(chǎn)率:在短時(shí)間內(nèi)以中等精度獲取多個(gè)讀數(shù),或者以更高的精度僅獲取幾個(gè)讀數(shù)。它有助于無(wú)損測(cè)量鐵磁性基材(鋼)上的非磁性涂層(油漆,合成材料,鉻等),以及導(dǎo)電基材(鋁)上的絕緣涂層(清漆,搪瓷,合成材料,陽(yáng)極氧化鋁等),銅,奧氏體不銹鋼)。其預(yù)定義的校準(zhǔn)方法可菀美適應(yīng)各種不同的表面條件和精度要求,minitset735 fn1.5膜厚儀現(xiàn)貨特惠價(jià)因此其傳感器可宛美補(bǔ)償不規(guī)則形狀的表面。

應(yīng)用:
                         •鋼鐵基體上的非磁性涂覆層
                           •有色金屬上的非導(dǎo)電涂層

特征;
                           •可通過(guò)藍(lán)牙傳輸數(shù)據(jù)至pc,平板pc,或手機(jī)客戶端
                           •可使用msoft 7專業(yè)版,,手機(jī)APP程序,
                         CAQ軟件或quispy軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)評(píng)估
                           •通過(guò)網(wǎng)絡(luò)可免費(fèi)更新探頭軟件

雙功能測(cè)頭

FN1.5

B / E

F: 0 ... 1.5 mm
N: 0 ... 0.7 mm

± (1.0 µm + 0.75 %)

? 5 mm

FN1.5-90°

C

F: 0 ... 1.5 mm
N: 0 ... 0.7 mm

± (1.0 µm + 0.75 %)

? 5 mm

FN2.6

B / E

F: 0 ... 2.6 mm
N: 0 ... 1.0 mm

± (1.0 µm + 0,75 %)

? 5 mm

FN5

B / E

F: 0 ... 5.0 mm
N: 0 ... 2.5 mm

± (1.5 µm + 0.75 %)

? 10 mm

標(biāo)準(zhǔn)配置

minitest725測(cè)厚儀• MiniTest主機(jī), 型號(hào) 725, 735 或 745
• SIDSP®-探頭,根據(jù)選擇
• 校準(zhǔn)箔和參考零板
• 操作說(shuō)明光盤包含 German, English, French和 Spanish 各種語(yǔ)言
• 軟包及肩帶
• 電池 (2 個(gè), AA Mignon型)
• 制造商證書
• MSoft 7 基礎(chǔ)版數(shù)據(jù)傳輸軟件


篤摯儀器(上海)有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有:
  ==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀;
   ==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x;
   ==>>德國(guó)馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺;
   ==>>德國(guó)EPK(Elektrophysik)手持式涂覆層測(cè)厚儀;
   ==>>德國(guó)艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀;
   ==>>美國(guó)API  XD系列激光干涉儀;
   ==>>美國(guó)GE無(wú)損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀;
   ==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺;
   ==>>英國(guó)雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺;
   ==>>德國(guó)Fraunhofer-IZFP無(wú)損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無(wú)損測(cè)量系統(tǒng);
   ==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器;
   ==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀;
   ==>>TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、萬(wàn)能測(cè)長(zhǎng)機(jī);
   ==>>杭州思看科技三維掃描儀.


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