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首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 英國Renishaw雷尼紹 > Renishaw三坐標測頭
英國雷尼紹測頭探針 Renishaw代理 雷尼紹提供各種類(lèi)型的測頭系統，以更好地滿(mǎn)足具體的應用需求。上海篤摯儀器專(zhuān)業(yè)代理雷尼紹各種探頭測針及光柵傳感器等，原裝真品，現貨供應，歡迎選購！
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雷尼紹測針模塊交換（TP20/TP200） TP20和TP200測頭具有測針模塊交換功能，可提高生產(chǎn)率，并為您提供優(yōu)異的測量應用系統。
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TP200 / TP200B測頭模塊 TP200采用微應變片傳感器，實(shí)現優(yōu)異的重復性和準確的三維輪廓測量，即使配用長(cháng)測針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問(wèn)題
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雷尼紹探頭價(jià)格TP200 TP200是一種使用電子應變計技術(shù)的探頭，其精度高于運動(dòng)觸發(fā)式探頭，應變片技術(shù)具有*可比擬的重復性和準確的三維輪廓測量
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RSP3-1掃描探頭英國Renishaw代理 RSP3測頭系列可使REVO-2安裝星形測針或曲柄式測針組合， 同時(shí)保持*佳的測量性能。該系列測頭可用于3D掃描 （X、 Y、 Z） 和觸發(fā)式應用， 實(shí)現了有效測針長(cháng)度在20 mm至394 mm時(shí)的準確掃描測量。
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SP80 Renishaw A-2238-0700 SP80軸套式安裝掃描測頭采用數字刻度和讀數頭技術(shù)，加上雷尼紹創(chuàng )新的分離光學(xué)測量原理，即使配用長(cháng)測針也能夠提供的掃描性能。
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SP25M-英國雷尼紹三坐標配件 SP25M由兩個(gè)傳感器組成，包含在一個(gè)外殼中。用戶(hù)可從五個(gè)掃描模塊（可安裝長(cháng)度從20 mm至400 mm的M3測針）中選擇任意一個(gè)，與轉接模塊（與雷尼紹的TP20系列測頭模塊兼容）進(jìn)行切換
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雷尼紹REVO RSP3-1 3D掃描測頭 RSP3是RSP2測頭的補充，為REVO系統提供3D掃描 （x,y,z） 能力，并可安裝曲柄式測針進(jìn)行測量。它用于三軸掃描測量，例如在測量過(guò)程中，使用固定的REVO測座角度
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RSP2輕型端部感應測頭A-3060-0028 RSP2是一種專(zhuān)門(mén)用于REVO系統的精巧的輕型端部感應測頭，能夠進(jìn)行二維掃描（x,y）和三維觸發(fā)測量。RSP2有一個(gè)通用測頭體，多種不同長(cháng)度的測針架均可安裝在上面
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A-4192-0002雷尼紹SP600探頭價(jià)格 雷尼紹的SP600模擬掃描測頭系列為各種坐標測量機提供高性能檢測、數字化及輪廓掃描功能。提供三種用途廣泛的SP600掃描測頭系統
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TP6/TP6A/TP6H三坐標探頭 具有M8和各種自動(dòng)吸附安裝選項的堅固機械結構式測頭。TP6和TP6A測頭具有不同的測頭安裝選項（分別為M8螺紋安裝和自動(dòng)吸附接頭安裝）
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SP80高精度型掃描測頭（A-2238-0700） SP80軸套式安裝掃描測頭采用數字刻度和讀數頭技術(shù)，加上雷尼紹創(chuàng )新的分離光學(xué)測量原理，即使配用長(cháng)測針也能夠提供的掃描性能。
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A-1371-0271雷尼紹三坐標測頭TP20 上海篤摯儀器代理供應的雷尼紹TP20是一款超小型五向或六向機械結構式觸發(fā)測頭系統。雙部件設計，由測頭本體和可分離測針模塊組成，使用高重復性磁接頭連接。
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SP600 掃描觸發(fā)式測頭/3D/測量/模擬 Renishaw的SP600系列模擬掃描探頭為多種CMMs提供高性能的檢測、數字化和輪廓掃描能力。 有三種用途廣泛的SP600掃描探針系統。每個(gè)系統包括探頭本身、PC接口卡和手寫(xiě)筆模塊更換架。
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renishaw SP25M測頭總代理 SP25M小巧的尺寸和自動(dòng)吸附安裝功能使之與PH10M PLUS / PH10MQ PLUS和PH6M測座兼容。
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雷尼紹坐標測量機 （CMM）探頭TP200 具有模塊交換功能的超小型測頭，它使用應變片機構，比機械結構式觸發(fā)測頭的壽命更長(cháng)、精度更高
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Renishaw TP200--英國雷尼紹三坐標測頭 TP200采用微應變片傳感器，實(shí)現優(yōu)異的重復性和準確的三維輪廓測量，即使配用長(cháng)測針時(shí)也不例外。
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PH10 PLUS機動(dòng)測座/三坐標測量機 PH10 PLUS測座系列產(chǎn)品為全自動(dòng)化坐標測量機增加了通過(guò)程序控制測頭定位的功能，從而大大提高了設備的測量效率
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