涂層測厚儀精度影響因素的有關(guān)說(shuō)明 |
點(diǎn)擊次數:1833 更新時(shí)間:2018-08-06 |
涂層測厚儀 首先我們來(lái)來(lái)了解一下什么是涂層測厚儀,也叫覆層測厚儀,涂鍍層測厚儀等,顧名思義涂層測厚儀是用來(lái)測量物體表面涂層厚度的儀器 a 基體金屬磁性質(zhì) 磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準;亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準。 b 基體金屬電性質(zhì) 基體金屬的電導率對測量有影響,而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準。 c 基體金屬厚度 每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。 d 邊緣效應 本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進(jìn)行測量是不可靠的。 e 曲率 試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著(zhù)曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。 f 試件的變形 測頭會(huì )使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出可靠的數據。 g 表面粗糙度 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì )引起系統誤差和偶然誤差,每次測 量時(shí),在不同位置上應增加測量的次數,以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn); 或用對基體金屬沒(méi)有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對儀器的零點(diǎn)。 g 磁場(chǎng) 周?chē)鞣N電氣設備所產(chǎn)生的強磁場(chǎng),會(huì )嚴重地干擾磁性法測厚工作。 h 附著(zhù)物質(zhì) 本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著(zhù)物質(zhì),以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。 i 測頭壓力 測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì )影響測量的讀數,因此,要保持壓力恒定。 j 測頭的取向 測頭的放置方式對測量有影響。在測量中,應當使測頭與試樣表面保持垂直。
應當遵守的規定 a 基體金屬特性 對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。 對于渦流方法,標準片基體金屬的電性質(zhì),應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。 b 基體金屬厚度 檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度,如果沒(méi)有,可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準。 c 邊緣效應 不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處進(jìn)行測量。 d 曲率 不應在試件的彎曲表面上測量。 e 讀數次數 通常由于儀器的每次讀數并不*相同,因此必須在每一測量面積內取幾個(gè)讀數。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內進(jìn)行多次測量,表面粗造時(shí)更應如此。 f 表面清潔度 測量前,應清除表面上的任何附著(zhù)物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)
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