涂層測厚儀又稱(chēng)膜厚儀、鍍層測厚儀或漆膜測厚儀。主要針對金屬基材上面的涂鍍層厚度測試。 涂層測厚儀測量時(shí)注意事項如下: 1,基體金屬特性:對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面 粗糙 度 ,應當與試件基體金屬的磁性和表面 粗糙度 相似。 2,基體金屬厚度:檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度,如果沒(méi)有,進(jìn)行校準后,可以測量。 3,邊緣效應:不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處進(jìn)行測量。 4,曲率:不應在試件的彎曲表面上測量。 5,讀數次數:通常由于儀器的每次讀數并不*相同,因此必須在每一測量面積內取幾個(gè)讀數。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內進(jìn)行多次測量,表面粗造時(shí)更應如此。 6,表面清潔度:測量前,應清除表面上的任何附著(zhù)物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。 7,磁場(chǎng):周?chē)鞣N電氣設備所產(chǎn)生的磁場(chǎng)會(huì )嚴重干擾磁性測厚工作 8,測頭取向:測頭的放置方式對測量有影響,在測量時(shí)應該與工件保持垂直 |