1 開(kāi)/ 關(guān)儀器 說(shuō)明:儀器沒(méi)有專(zhuān)門(mén)的開(kāi)關(guān)。 打開(kāi)儀器 - 當儀器放在工件上時(shí)自動(dòng)開(kāi)啟。如果儀器放在非鐵磁性或不導電材料上,顯示屏會(huì )顯示“Er6”,然后顯示四個(gè)水平短線(xiàn)而不顯示任何讀數。 - 另一種開(kāi)機方法是按[OK]鍵。 請注意! 不要通過(guò)手指壓迫傳感器來(lái)開(kāi)啟儀器!這樣可能會(huì )導致錯誤的測量結果。 關(guān)閉儀器/ 自動(dòng)關(guān)閉 一分鐘不使用,儀器會(huì )自動(dòng)關(guān)閉。(關(guān)閉= 儀器沒(méi)有任何顯示)。 2 測量涂鍍層厚度 1. 儀器開(kāi)啟后,把儀器放在要測量工件上,等待儀器發(fā)出測量聲響。這種方式可以自動(dòng)開(kāi)啟儀器。 2. 把儀器提離工件。測量聲響后顯示讀數。說(shuō)明:若太早提起儀器(未有聲響前),錯誤信息“Er6”會(huì )出現。重復步驟1。 3. 當儀器已在開(kāi)啟狀態(tài)時(shí), 讀數會(huì )馬上顯示。儀器放在測量工件上及提起后均有顯示。 ? 3 顯示儀器內儲存的測量數據 儀器多可以?xún)Υ?99 個(gè)測量數據。 1. 用[?]鍵或[?]鍵可翻看測量數據。 2. 翻過(guò)第1個(gè)或者后一個(gè)測量數據后,屏幕將顯示“- - - - “并維持1 秒鐘左右。 任何時(shí)候您都可以繼續測量。 4 刪除所有測量數據 1. 按[?] 或[?]鍵。 2. 按[CAL]鍵。“del” 即刪除將顯示2 秒鐘。 3. 在“del”顯示的時(shí)候按[OK]鍵。儀器內所有測量數據將被刪除。當“del”不顯示的時(shí)候按[OK]鍵將無(wú)任何反應。 5 歸一化 歸一化用來(lái)對測量?jì)x器進(jìn)行調整。歸一化需要未鍍過(guò)的底材,而且底材的形狀和物料必須和被測量的工件一致。 說(shuō)明:歸一化會(huì )刪除所有的內存數據。 歸一化儀器(前提: 儀器處于開(kāi)啟狀態(tài)) 1. 按[CAL]鍵. 顯示"Base" (即“未鍍過(guò)的底材”).2. 在底材上測量五次左右每次測量后,會(huì )顯示當前的讀數。 3. 按兩次[OK] 鍵.屏幕顯示“Er17”,忽略它。完成歸一化程序 6 校準 校準需要有下面幾項東西:底材(形狀和底材物料要與待測部件一致)和一片標準片(儀器隨機的75 μm 左右標準片)。說(shuō)明:校準將刪除內存中的所有讀數。 校準儀器(前提:儀器必須打開(kāi)) 1. 按[CAL]鍵。顯示"Base" (即“未鍍過(guò)的底材”) 2. 在底材上測量五次左右.每次測量后,會(huì )顯示當前的讀數。 3. 按[OK]鍵.顯示0.00 和STD1 (即校準標準片# 1). 4. 把校準標準片放在底材上,并測量5 次左右。 每次測量后,屏幕上會(huì )顯示當前讀數。 5. 用[?] 或[?]鍵調整第4 步的后一個(gè)數值至標準片的標稱(chēng)值, 如“75 μm”。標準片的標稱(chēng)值注明在標準片上。 6. 按[OK]鍵。 完成校準程序. 儀器返回測量狀態(tài) 7 刪除校準資料/ 恢復初始曲線(xiàn) 有時(shí),如果經(jīng)過(guò)校準后,儀器測量仍然不準確,則可以刪除校準參數。如果先前的校準程序沒(méi)有正確進(jìn)行的話(huà),就可能會(huì )發(fā)生這種情況。在這種情況下,可以把特征曲線(xiàn)恢復到原始的出廠(chǎng)設定。 刪除儀器的校準參數(前提:儀器必須打開(kāi)) 1. 按[CAL]鍵. 屏幕上顯示"Base" (即“底材”) . 2. 在底材上測量5 次左右. 3. 按[OK]鍵. 顯示“STD1" (即校準標準片# 1) . 4. 在底材上測量1 次.屏幕將顯示0 左右的讀數. 5. 用[?] 或[?] 鍵將STD1 調整到0.00 .屏幕將顯示“0.00 STD1” . 6. 按[OK] 鍵?;謴偷匠跏嫉奶卣髑€(xiàn)?;謴屯瓿?。儀器現在可以測量了。 (僅供參考,請關(guān)注儀器版本,選擇對應的操作手冊) |