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　　1.基體金屬磁化：磁性法測量受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上 對儀器進(jìn)行校對。

　　2.邊緣效應：本儀器對試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內轉角處進(jìn)行測量是不可靠的。

　　3.基體金屬厚度：每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測量就不受基體厚度的影響。

　　4.曲率：試件的曲率對測量有影響，這種影響是隨著(zhù)曲率半徑減小明顯增大。因此不應在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測量。

　　5.附著(zhù)物質(zhì)：本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感。因此必須清除附著(zhù)物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。

　　6.磁場(chǎng)：周?chē)鞣N電氣設備所產(chǎn)生的強磁場(chǎng)，會(huì )嚴重地干擾磁性測量厚度的工作。

　　7.表面粗糙度：基體金屬和表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì )引起系統誤差和偶然誤差。每次測量時(shí)，在不同位置上增加測量的次數，克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn);或用沒(méi)有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對儀器零點(diǎn)。

　　8.試片的變形：探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會(huì )出現不太可靠的數據。

　　9.探頭的放置：探頭的放置方式對測量有影響，在測量中使探頭與試樣表面保持垂直。

　　10.讀數次數：通常儀器的每次讀數并不*相同。因此必須在每一測量面積內取幾個(gè)測量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內進(jìn)行測量，表面粗糙時(shí)更應如此。