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x射線(xiàn)鍍層與合金的材料分析儀 

作為在生產(chǎn)測量中使用X射線(xiàn)熒光法的*驅?zhuān)葡柡茉缇鸵庾R到此方法在鍍層厚度測量和材料分析領(lǐng)域的巨大潛力，因而開(kāi)始研發(fā)和制造工業(yè)級耐用的測量?jì)x器。第*臺菲希爾X射線(xiàn)儀器在二十世紀八十年代初就已面世。從那時(shí)起，菲希爾不斷改進(jìn)和研發(fā)X射線(xiàn)熒光技術(shù)，使得該項技術(shù)在今天居于**地位。其中的一個(gè)例子是透明的狹縫設計，從而使用戶(hù)可以與基本射線(xiàn)同方向查看樣品。

XDL®系列測量?jì)x器具有電動(dòng)機驅動(dòng)的軸（可選）和從上至下的測量方向，可以實(shí)現自動(dòng)串行測試。 X射線(xiàn)源，濾光片，光圈和檢測器的不同版本使選擇具有適合您的特定測量任務(wù)的X射線(xiàn)設備成為可能。

典型應用領(lǐng)域：
   • 鍍層與合金的材料分析（包括薄鍍層以及低含量）。來(lái)料檢驗，生產(chǎn)監控。
  • 研發(fā)項目
   • 電子行業(yè)
   • 接插件和觸點(diǎn)
   • 黃金、珠寶及手表行業(yè)
   • 測量印刷線(xiàn)路板上僅數個(gè)納米的Au和Pd鍍層
   • 痕量分析
   • 根據高可靠性要求測量鉛Pb含量
   • 分析硬質(zhì)鍍層材料

特征：
   • 帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線(xiàn)管。z高工作條件： 50 kV, 50W
   • X射線(xiàn)探測器采用珀爾帖致冷的硅PIN二極管
   • 準直器：4個(gè)，可自動(dòng)切換，從直徑? 0.1mm 到 ? 0.6 mm
   • 基本濾片：3個(gè)，可自動(dòng)切換
   • 測量距離可在0—80mm范圍內調節
   • 可編程XY平臺
   • 視頻攝像頭可用來(lái)實(shí)時(shí)查看測量位置，十字線(xiàn)上有經(jīng)過(guò)校準的刻度標尺，而測量點(diǎn)實(shí)際大小也在圖像中顯示。
   • 設計獲得許可，防護全面，符合德國X射線(xiàn)條例第4章第3節

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型熒光分析儀：

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器可以用來(lái)測量SnPb焊層中的鉛含量。在這一應用中，首先要準確測量SnPb的厚度以便分析Pb的含量。按照航空航天工業(yè)中高可靠性的要求，為避免裂紋的出現，合金中Pb的含量至少必須在3%以上。另一方面，對于日常使用的電子產(chǎn)品，根據RoHS指令要求，Pb在焊料中的含量多不能超過(guò)1000ppm。盡管XDAL測量Pb含量的測量下限取決于SnPb鍍層的厚度，但是通常情況下XDAL的測量下限足夠低，可以很輕易達到以上的測量需求。