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產(chǎn)品名稱(chēng)： |
上海庫侖電解測厚儀Couloscope CMS2 STEP |
發(fā)布時(shí)間： |
2024-08-31 |
產(chǎn)品品牌： |
Helmut Fischer/德國菲希爾 |
產(chǎn)品特點(diǎn)： |
上海庫侖電解測厚儀Couloscope CMS2 STEPCOULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線(xiàn)路板上剩余純錫的厚度，庫侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 |
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上海庫侖電解測厚儀Couloscope CMS2 STEP的詳細資料： |
上海庫侖電解測厚儀Couloscope CMS2 STEP -----庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差 【簡(jiǎn)單介紹】 COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線(xiàn)路板上剩余純錫的厚度，庫侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這個(gè)方法主要應用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現在也適用于監控印刷線(xiàn)路板剩余純錫的厚度。COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差
使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線(xiàn)路板上剩余純錫的厚度，庫侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這個(gè)方法主要應用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現在也適用于監控印刷線(xiàn)路板剩余純錫的厚度。
COULOSCOPE® CMS2 STEP
CMS2 STEP 的特征是STEP測試功能（同時(shí)測定厚度和電位差）。 在多層鎳的質(zhì)量監控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試 （根據ASTM B764-94和DIN 50022）。鍍層厚度根據庫侖法得出， 而電位差則由一個(gè)鍍有AgCl的銀電極得到。
COULOSCOPE® CMS2
CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結構; 它的工作原理是根據陽(yáng)極溶解的庫侖法 （DIN EN ISO 2177）。 簡(jiǎn)單的操作和菜單化的操作指導使CMS2成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監控和質(zhì)量檢驗理想的解決方法。設備為不同的鍍層結構配備了近100個(gè)預留的應用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）, 以及各種電解速度（例如1, 2, 5, and 10 μm/min）。這些應用程式適用于多鍍層系統。 
| 序號 | 描述 | 規格型號 | | 01 | 庫侖測厚儀 CMS2 STEP 采用庫侖方法的鍍層測量?jì)x，有中文操作系 統，并且可以測量多層鎳厚度及電位差。大 LCD 顯示器；帶鍵盤(pán)；預先定義大約 100 種常 用金屬鍍層；50 條存儲記錄用于特定應用的 參數和 3000 個(gè)測量值。該價(jià)格包括電源電 纜，塑料灰塵罩及操作手冊。 | 605-087 | | 02 | V24 測量臺 | 600-782 | | 03 | 庫侖標準片 STEP 光亮鎳：6 μm 左右 半光亮鎳：10 μm 左右 測量面積：60 mm×50 mm 分隔為 25 個(gè)方形區域 分別標定帶證書(shū) | 605-008 | | 04 | 庫侖法電解液 F22 1L 因受溫度影響，使用前請將 PH 值調到 2.9 左 右。 | 603-547 | | 05 | 庫侖標準片 Cu/Fe 10-15um Cu：10 - 15 μm 測量面積：60 mm×50 mm 分隔為 25 個(gè)方形區域 分別標定帶證書(shū) | 605-001 | | 06 | 庫侖法電解液 F4 1L （國內提供） | 600-822A | | 07 | 庫侖標準片 Ni/Cu 6-9um Ni：6 - 9 μm 測量面積：60 mm×50 mm 分隔為 25 個(gè)方形區域 分別標定帶證書(shū) | 605-004 | | 08 | 庫侖法電解液 F6 1L （國內提供） | 600-823A | | 09 | 庫侖標準片 Cr /Fe,Ni,Al Cr：0.1-0.3 μm 測量面積：60 mm×50 mm 分隔為 25 個(gè)方形區域 分別標定帶證書(shū) | 604-996 | | 10 | 庫侖法電解液 F1 1L （國內提供） | 600-820A | | 11 | 小臺虎鉗 | 600-800 |
COULOSCOPE® CMS2的特征
大尺寸高分辨率的彩色顯示器
簡(jiǎn)單的操作和圖示的用戶(hù)指導
使用V18支架實(shí)現半自動(dòng)化測量
電解速度和測量面積的簡(jiǎn)單選擇 （0.1 ----- 50 μm/min） 和（0.6 ----- 3.2 mm Ø）
電壓曲線(xiàn)圖形顯示
圖形和統計分析 多語(yǔ)言和計量單位可供選擇
COULOSCOPE® CMS2 STEP的特殊功能
同時(shí)測量鍍層厚度和電位差
銀參比電極的簡(jiǎn)單準備
可調節的電解電流
COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位系統概述 一個(gè)測量系統包括COULOSCOPE® CMS2或CMS2 STEP和一個(gè)有測量槽的支架（例如：STEP測量槽）。各種測量臺設計適合不同的應用。 可選配件 大量的可選配件使測量工作更便利，確保了安全的儲存并為固定工件提供輔助。校準 校準時(shí)會(huì )產(chǎn)生一個(gè)修正系數 。這是由于測量槽密封墊子的制造公差、鍍層密度的變化、合金成分的變化，需要該修正系數。
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| 產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字： Couloscope CMS2 庫侖電解測厚儀 上海庫侖測厚儀 |
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