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菲希爾代理XAN500鍍層測厚和合金分析儀

目前為止功能z多樣化的FischerXRF,能進(jìn)行材料分析，能測量鍍層厚度，并可實(shí):現無(wú)校準測量(不需標準片)。
XAN 500:
XAN500可以作為手持式設備使用，也可以配備含WinFTM軟件的平板電腦。
◆在生產(chǎn)過(guò)程中，實(shí)時(shí)檢測鍍層厚度(如: Zn、ZnNi、Ag、 Au)。
◆可便捷 且穩定地測量大尺寸部件，如管道、外殼或機械零件。
◆將儀器放置到測量箱中，XAN500即成為全功能的臺式儀器,可準確地測量小尺寸零件,如螺母和螺栓。
◆可整合到生產(chǎn)線(xiàn)的控制系統中，實(shí)現100%的質(zhì)量監控。

Fischerscope X-RAY XAN500 是一款可移動(dòng)使用并且應用廣泛的能量色散型X射線(xiàn)熒光鍍層測厚及材料分析儀，它特別適用于鍍層厚度的無(wú)損測量及材料分析。適用于客戶(hù)進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監控。

典型的應用領(lǐng)域有：

• 測量大型工件的鍍層，如：機械零件和外殼

• 在電鍍過(guò)程中進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)測量

• 對合金材料進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)檢測

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN500是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線(xiàn)熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進(jìn)行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY儀器一樣，本款儀器有著(zhù)出色的準確性以及長(cháng)期的穩定性，這樣就顯著(zhù)減少了校準儀器所需的時(shí)間和精力。

XAN500采用良好的硅漂移探測器能夠達到非常高的分析精度及探測靈敏度。依靠FISCHER的*基本參數法，可以在沒(méi)有校驗標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

使用XAN500型手持式儀器可以對大型工件以及臺式儀器難以測量的位置進(jìn)行便捷快速的測量。設計結構的優(yōu)化使得儀器可以唄安全第放置到工件上，無(wú)論是鍍層測厚或者材料分析，都可以保證其測量結果的再現性。同時(shí)，儀器可選配便攜式智能箱，使其成為小型的臺式測量設備，以便檢測小型樣品。

應用：

在生產(chǎn)過(guò)程中，實(shí)時(shí)檢測鍍層厚度（如：Zn、ZnNi、Ag、Au）

可便捷且穩定地測量大尺寸部件，如管道、外殼或機械零件。
將儀器放置到測量箱中，XAN500即成為全功能的臺式儀器，可準確地測量小尺寸零件，如螺母和螺栓。

還可整合到生產(chǎn)線(xiàn)的控制系統中，可以實(shí)現100%的質(zhì)量監控