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FISCHERSCOPE X-RAY XDL /XDLM系列與XUL/XUUM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線(xiàn)管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線(xiàn)源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動(dòng)切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創(chuàng )造良好的激勵條件。

產(chǎn)品型號：

•         FISCHERSCOPEX-RAY XDL M231 熒光鍍層測厚儀
•         FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232 x射線(xiàn)熒光鍍層測厚儀
•         FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237 x射線(xiàn)熒光鍍層測厚和材料分析儀

兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點(diǎn)，由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數率，確保良好的重復精度。比較XUL和XUM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從.上到下。它們被設計為用戶(hù)友好的臺式機，使用模塊化結構，也就是說(shuō)它們可以配備簡(jiǎn)單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求。配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動(dòng)化系列測試。它可以很方便地掃描表面，這樣就可以檢查其均勻性。為了簡(jiǎn)單快速定位樣品，當測量門(mén)開(kāi)啟時(shí)，XY工作臺自動(dòng)移動(dòng)到加載位置，同時(shí)激光點(diǎn)指示測量點(diǎn)位置。對于大而平整的樣品，例如線(xiàn)路板，殼體在側面有開(kāi)口(C形槽)。由于測量室空間很大，樣品放置方便， 儀器不僅可以測量 平面平整的物體，也可以測量形狀復雜的大樣品(樣品高度可達140mm)。Z軸可電動(dòng)調整的儀器，測量距離還可以在0 - 80 mm的范圍內自由選擇，這樣就可以測量腔體內部或表面不平整的物體(DCM方法)。

特征:

      。帶玻璃窗口和鎢靶的X射線(xiàn)管或帶鈹窗和鎢靶的微聚焦X射線(xiàn)管。
      。*高工作條件:50KV,50W
      。X射線(xiàn)探測器采用比例接收器
      。準直器:固定或4個(gè)自動(dòng)切換，0.05 x0.05 mm到00.3 mm
      ?；緸V片:固定或3個(gè)自動(dòng)切換
      。測量距離可在0-80 mm范圍內調整
      。固定樣品支撐臺，手動(dòng)X(jué)Y工作臺
      。攝像頭用來(lái)查看基本射線(xiàn)軸向方向的測量位置。
      ?？潭染€(xiàn)經(jīng)過(guò)校準，顯示實(shí)際測量點(diǎn)大小。
      。設計獲得許可， 防護全面，符合德國X射線(xiàn)條例第4章第3節

典型應用領(lǐng)域:

      。大批量電鍍件測量
      。防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
      。電鍍行業(yè)樓液分析
      。線(xiàn)路板行業(yè)如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
      。測量接插件和觸點(diǎn)的鍍層
      。電子和半導體行業(yè)的功能性鍍層測量
      。黃金，珠寶和手表行業(yè)

應用實(shí)例

XDLM測量系統經(jīng)常用來(lái)測量接插件和觸點(diǎn)的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區都是很小的結構如良好或突起，測量這些區域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時(shí)，就要使用開(kāi)槽的準直器以獲得*大的信號強度。

德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237參數規格：

通用規格

X射線(xiàn)源

X射線(xiàn)探測

 視頻系統

電氣參數

尺寸規格