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  微電腦多功能電解測厚儀 CMS2 /CMS2 STEP

  微電腦多功能電解測厚儀 CMS2 /CMS2 STEP 一個(gè)測量系統包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一個(gè)有測量槽的支架（例如：STEP測量槽） 。各種測量臺設計適合不同的應用。 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結構; 在多層鎳的量監控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試。

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  微電腦多功能電解測厚儀Couloscope CMS2

  微電腦多功能電解測厚儀Couloscope CMS2 德國FISCHER菲希爾COULOSCOPE CMS2庫倫法測厚儀-----根據庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差。庫侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。

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