Surtronic S-116粗糙度儀泰勒霍普森經(jīng)銷(xiāo)商 測(cè)量范圍:200 um 100 um 10 um 分辨率: 100 nm 20 nm 10 nm 底噪(Ra):250 nm 150 nm 100 nm 重復(fù)精度 (Ra) :1%測(cè)試值+底噪 傳感器原:電感 測(cè)量力:150-300mg 測(cè)針針尖半徑:標(biāo)配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin
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