DUALSCOPE MP40E-S菲希爾膜厚測(cè)試儀 DUALSCOPE® MP40E-S是一款操作簡(jiǎn)便的鍍層厚度測(cè)量和靈活的數(shù)據(jù)采集設(shè)備。 存儲(chǔ)容量多達(dá)1,000數(shù)據(jù)組的10,000個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù),帶動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)分配能力。
查看詳細(xì)介紹菲希爾膜厚測(cè)試儀DualScope MPOR操作說明 DUALSCOPE® MPOR USB涂層測(cè)厚儀采用根據(jù)DIN EN ISO 2360,ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法和DIN EN ISO 2178,ASTM B499電磁感應(yīng)方法
查看詳細(xì)介紹共 2 條記錄,當(dāng)前 1 / 1 頁 首頁 上一頁 下一頁 末頁 跳轉(zhuǎn)到第頁