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  TP200/TP200B測頭本體SF（標(biāo)準(zhǔn)測力）

  TP200/TP200B測頭本體SF（標(biāo)準(zhǔn)測力） TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。

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  TP200標(biāo)準(zhǔn)測力測頭模塊A-1207-0001 現(xiàn)貨

  TP200標(biāo)準(zhǔn)測力測頭模塊A-1207-0001 現(xiàn)貨 TP200包含TP200測頭體（傳感器）和測力模塊 組合1 包含標(biāo)準(zhǔn)測力模塊和測頭體A-1207-0001 組2 包含低測力模塊和測頭體A-1207-0002 TP200傳感器（測頭體）型號為A-1207-0020

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  TP200 / TP200B測頭模塊

  TP200 / TP200B測頭模塊 TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題

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  Renishaw TP200坐標(biāo)機(jī)測頭理想性價比

  Renishaw TP200坐標(biāo)機(jī)測頭理想性價比 觸發(fā)式測頭測量離散的點(diǎn)，是檢測三維幾何工件的理想選擇。雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價比的系統(tǒng)，既可在手動坐標(biāo)測量機(jī)上進(jìn)行簡單的性能檢測，也可在數(shù)控高速機(jī)器上進(jìn)行復(fù)雜輪廓測量。

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