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  TP200/TP200B測頭本體SF（標準測力）

  TP200/TP200B測頭本體SF（標準測力） TP200采用微應變片傳感器，實(shí)現優(yōu)異的重復性和準確的三維輪廓測量，即使配用長(cháng)測針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問(wèn)題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。

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  三坐標測頭tp-200

  三坐標測頭tp-200 TP200通過(guò)使用電子應變傳感準確檢測觸針*微小位移產(chǎn)生的力來(lái)克服這一誤差。TP200系統包括一個(gè)探針本體和單獨的探針模塊，提供快速更換探針和探針超程能力，并與Renishaw的探針頭和延長(cháng)桿兼容。

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  TP200標準測力測頭模塊A-1207-0001 現貨

  TP200標準測力測頭模塊A-1207-0001 現貨 TP200包含TP200測頭體（傳感器）和測力模塊 組合1 包含標準測力模塊和測頭體A-1207-0001 組2 包含低測力模塊和測頭體A-1207-0002 TP200傳感器（測頭體）型號為A-1207-0020

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  TP200 / TP200B測頭模塊

  TP200 / TP200B測頭模塊 TP200采用微應變片傳感器，實(shí)現優(yōu)異的重復性和準確的三維輪廓測量，即使配用長(cháng)測針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問(wèn)題

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  Renishaw TP200坐標機測頭理想性?xún)r(jià)比

  Renishaw TP200坐標機測頭理想性?xún)r(jià)比 觸發(fā)式測頭測量離散的點(diǎn)，是檢測三維幾何工件的理想選擇。雷尼紹提供品種齊全、具有理想性?xún)r(jià)比的系統，既可在手動(dòng)坐標測量機上進(jìn)行簡(jiǎn)單的性能檢測，也可在數控高速機器上進(jìn)行復雜輪廓測量。

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