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  XDAL237 X射線熒光測厚儀

  XDAL237 X射線熒光測厚儀 憑借電機(jī)驅(qū)動（可選）與自上而下的測量方向，XDL系列測量儀器能夠進(jìn)行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設(shè)計上，F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應(yīng)。

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  x射線鍍層與合金的材料分析儀

  x射線鍍層與合金的材料分析儀 作為在生產(chǎn)測量中使用X射線熒光法的*驅(qū)，菲希爾很早就意識到此方法在鍍層厚度測量和材料分析領(lǐng)域的巨大潛力，因而開始研發(fā)和制造工業(yè)級耐用的測量儀器

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