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  菲希爾CMS2 STEP鉻鎳銅鍍層電位差測厚儀

  菲希爾CMS2 STEP鉻鎳銅鍍層電位差測厚儀 在多層鎳的質(zhì)量監控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化 STEP 測試 ，Couloscope CMS STEP用來(lái)測定多層鎳鍍層系統中各個(gè)單個(gè)的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。

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  CMS2 STEP — 同時(shí)測量多鍍層厚度和電位差

  CMS2 STEP — 同時(shí)測量多鍍層厚度和電位差 CMS2 STEP 的特征是STEP測試功能（同時(shí)測定厚度和電位差）。 在多層鎳的質(zhì)量監控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試 （根據ASTM B764-94和DIN 50022）。CMS2 STEP的典型應用: 汽車(chē)制造中的Cr裝飾物， 多層鎳的鍍層

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  微電腦多功能電解測厚儀 CMS2 /CMS2 STEP

  微電腦多功能電解測厚儀 CMS2 /CMS2 STEP 一個(gè)測量系統包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一個(gè)有測量槽的支架（例如：STEP測量槽） 。各種測量臺設計適合不同的應用。 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結構; 在多層鎳的量監控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試。

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  Couloscope CMS2 STEP 測厚儀

  Couloscope CMS2 STEP 測厚儀 很多常見(jiàn)的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡(jiǎn)單快速地測量。這個(gè)方法為任何金屬鍍層 提供了的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內， 很多 材料不需要預設定；基材組成和幾何形狀對于測量都 是無(wú)關(guān)緊要的。

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  電位測厚COULOSCOPE CMS2 STEP

  電位測厚COULOSCOPE CMS2 STEP CMS2 STEP 的特征是 STEP 測試功能（同時(shí)測定厚度和電位差）。 在多層鎳的質(zhì)量監控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化 STEP 測試 （根據 ASTM B764-94和 DIN 50022）。

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  cms2-step微電腦多功能電解測厚儀

  cms2-step微電腦多功能電解測厚儀 庫侖法是一種簡(jiǎn)單易行的電化學(xué)分析方法，可用于確定金屬涂層的厚度。 盡管該方法主要用于檢查電鍍涂層的質(zhì)量，但它也適用于檢測印刷電路板上剩余純錫的厚度。

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  菲希爾庫侖測厚儀CMS2 STEP汽車(chē)業(yè)廣受歡迎

  菲希爾庫侖測厚儀CMS2 STEP汽車(chē)業(yè)廣受歡迎 簡(jiǎn)單的操作和菜單化的操作指導使CMS2成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監控和質(zhì)量檢驗理想的解決方法。 設備為不同的鍍層結構配備了近100個(gè)預留的應用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）,以及各種電解速度（例如1, 2, 5, and 10 μm/min）。這些應用程式適用于多鍍層系統.

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  電解退鍍 庫侖測厚儀菲希爾 cms2 step

  電解退鍍 庫侖測厚儀菲希爾 cms2 step ◇ 使用電解退鍍技術(shù)（庫侖法），同時(shí)測量鍍層厚度和電位差 ◇ 圖形顯示的交互方式，菜單指引的操作提示，易于操作 ◇ 適用性廣泛：可測量金屬和非金屬底材上的鍍層厚度 ◇ 也適合測量多鍍層厚度

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  cms2 step 電解多層鎳測厚儀可測電位差型

  cms2 step 電解多層鎳測厚儀可測電位差型 德國菲希爾 CMS2 STEP 庫侖測厚儀采用庫侖方法的鍍層測量?jì)x，有中文操作系統，并且可以測量多層鎳厚度及電位差。大LCD 顯示器；帶鍵盤(pán)；預先定義大約100 種常用金屬鍍層；50 條存記錄用于特定應用的參數和3000 個(gè)測量值。該價(jià)格包括電源電纜，塑料灰塵罩及操作手冊。

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  電解式（庫侖）測厚儀cms2 step測試原理

  電解式（庫侖）測厚儀cms2 step測試原理 STEP Test 是（Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination）（同時(shí)測量鍍層厚度和化學(xué)電位差）的簡(jiǎn)寫(xiě)， 是已經(jīng)標準化很久的測量方法。它可以同時(shí)測量各鍍層厚度和多層鎳系統中兩層之間的電化學(xué)電位差。 厚度測量時(shí)用庫侖法來(lái)測量

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  多層鎳測厚儀品牌--Couloscope CMS2 STEP

  多層鎳測厚儀品牌--Couloscope CMS2 STEP 庫侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現在也適用于監控印刷線(xiàn)路板剩余純錫的厚度。

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  上海庫侖電解測厚儀Couloscope CMS2 STEP

  上海庫侖電解測厚儀Couloscope CMS2 STEP COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線(xiàn)路板上剩余純錫的厚度，庫侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。

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  菲希爾Couloscope CMS2 STEP 庫侖法測厚儀

  菲希爾Couloscope CMS2 STEP 庫侖法測厚儀COULOSCOPE®CMS STEP除了與COULOSCOPE®CMS相對應的涂層厚度測量之外，COULOSCOPE®CMS STEP還提供了根據ASTM B764 - 94和DIN 50022進(jìn)行STEP測試測量的功能.COULOSCOPE®CMS STEP非常適合測量 以簡(jiǎn)單的標準符合方式，單個(gè)涂層厚度和多個(gè)鎳涂層的電位差 。

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  Couloscope CMS2 STEP 庫侖法測厚儀

  Couloscope CMS2 STEP 庫侖法測厚儀 在電鍍行業(yè)中，對多層鎳鍍層中各自層的同時(shí)的厚度及電極電位的測定變成了一個(gè)越來(lái)越重要的需求，德國Fischer庫倫測厚儀CouloScope CMS STEP正是應此而成功研制并大量應用。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。

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