無(wú)損鍍銀測厚儀 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射線(xiàn)熒光光譜法(EDXRF)作為鍍層厚度測量和材料分析的方法,可用來(lái)定量和定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。無(wú)論是在實(shí)驗室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中,這一方法都能完美勝任,并還可以與現代化設備一起發(fā)揮作用。
查看詳細介紹德國菲希爾fischer xdl-230 鍍層膜厚測試儀 德國菲希爾X射線(xiàn)測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240是一款應用廣泛的能量色散型X射線(xiàn)熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無(wú)損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時(shí)還能檢測大規模生產(chǎn)的零部件及印刷線(xiàn)路板上的鍍層。
查看詳細介紹fischer xay xdl230德國菲希爾代理 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線(xiàn)熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無(wú)損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時(shí)還能檢測大規模生產(chǎn)的零部件及印刷線(xiàn)路板上的鍍層。
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