華東代理fischer xdl-b鍍層測厚儀 FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線(xiàn)系統。測量方向從上往下,單一鍍層、二元合金層、三元合金層和雙鍍層例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/C
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