淺析尼克斯膜厚儀應用優(yōu)勢,性能特點(diǎn) |
點(diǎn)擊次數:830 更新時(shí)間:2021-02-02 |
尼克斯膜厚儀可以分為臺式和手持式。 手持式的是磁感應原理,利用從測頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。 臺式的熒光X射線(xiàn)膜厚儀,是通過(guò)一次X射線(xiàn)穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子,俗稱(chēng)為二次熒光,,在通過(guò)計算二次熒光的能量來(lái)計算厚度值。 尼克斯膜厚儀應用優(yōu)勢: 1、快速:一般測量一個(gè)樣品只需要10S~60S,樣品可不處理或進(jìn)行簡(jiǎn)單處理; 2、無(wú)損:物理測量,不改變樣品性質(zhì); 3、準確:對樣品可以分析; 4、直觀(guān):直觀(guān)的分析譜圖,元素分布一幕了然,定性分析速度快; 5、環(huán)保:檢測過(guò)程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水。 熒光X射線(xiàn)尼克斯膜厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量?jì)x器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析。 尼克斯膜厚儀性能特點(diǎn): 良好的射線(xiàn)屏蔽作用。 高分辨率探頭使分析結果。 測試口高度敏感性傳感器保護。 小孔準直器可以滿(mǎn)足微小測試點(diǎn)的需求。 采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測試高度。 定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊。 滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求。 高精度移動(dòng)平臺可定位測試點(diǎn),重復定位精度小于0.005mm。 鼠標可控制移動(dòng)平臺,鼠標點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)。 |