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1.標準校準：建議在平坦的表面上進(jìn)行測量，并且如果測量對象的材料，尺寸和曲率與ElektroPhysik零板相同，則建議進(jìn)行校準。
2.單點(diǎn)校準（不使用校準箔進(jìn)行歸零）：如果允許的測量誤差大為±（讀數的3％*加上探頭的恒定誤差），則建議使用。 （探頭恒定誤差示例：F.1.6：1μm）。。
3.兩點(diǎn)校準（使用校準箔進(jìn)行歸零和校準）：如果預期讀數將接近校準值，并且允許的探頭誤差大為±（1％... 3％of讀數*（根據探頭）加上恒定的探頭誤差）
*請參考實(shí)驗室條件下提供的校準標準。
4.兩點(diǎn)校準（使用一組兩個(gè)校準箔）：
a）建議用于粗糙表面的測量。
b）如果期望的厚度在兩個(gè)校準箔片之間，建議在光滑表面上進(jìn)行準確測量。
5.通過(guò)涂層（CTC）進(jìn)行校準：使用校準箔進(jìn)行校準。如果測試樣品已涂覆且沒(méi)有未涂覆的樣品可用于比較，則建議使用。此方法適用于以下探頭：F05，F1.6，F3和FN1.6（僅含鐵零件），F1.6 / 90，F2 / 90，F10，F20和F50。
請注意：
在本手冊中，“校準箔”一詞適用于所有校準標準，包括通常不被描述為“箔”的那些：厚度分別為2mm，5mm和10m的那些。

校準是進(jìn)行準確測量的*重要要求。 校準樣品與產(chǎn)品樣品的距離越近，校準和讀數的準確性就越高。 例如，如果要在直徑為6 mm的ST37（低碳鋼）鋼制圓柱體上測量產(chǎn)品，則未涂覆樣品的校準必須在具有相同直徑的類(lèi)似質(zhì)量的鋼制圓柱體上進(jìn)行。
校準樣品必須通過(guò)以下方式與產(chǎn)品樣品相對應：
·曲率半徑
·基材材料性能
·基材厚度
·測量區域的大小
·校準點(diǎn)
注意：校準樣品必須始終與產(chǎn)品本身的測量點(diǎn)相同，尤其是在小零件的角和邊緣的情況下。