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產(chǎn)品名稱(chēng): |
fischer膜厚儀 |
發(fā)布時(shí)間: |
2024-09-02 |
產(chǎn)品品牌: |
Helmut Fischer/德國菲希爾 |
產(chǎn)品特點(diǎn): |
fischer膜厚儀ISOSCOPE®、 DELTASCOPE® 和DUALSCOPE® 手持式儀 器,配合各種探頭使用,可以簡(jiǎn)單、快速地測量涂鍍層的厚度。FISCHERSCOPE® MMS® PC, 集成了磁感應法、渦流法和BETA背反射法的多功能測量系統,用于測量鍍層厚度和材料測試 |
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fischer膜厚儀 FISCHER—讓測量變得簡(jiǎn)便 現今,FISCHER 的測量和分析儀器廣泛應用于世界各個(gè)領(lǐng)域,可滿(mǎn)足客戶(hù)對高精度、高可靠性測量和操作簡(jiǎn)便的需求。我們通過(guò)專(zhuān)業(yè)的咨詢(xún)服務(wù)為客戶(hù)提供理想的解決方案,即從第*次接觸開(kāi)始,不斷溝通,直至達到定制化服務(wù)的理念。這些緊密合作與我們的創(chuàng )新驅動(dòng)力不斷結合,為形成新的測量解決方案奠定了堅實(shí)的基礎。ISOSCOPE®、 DELTASCOPE® 和DUALSCOPE® 手持式儀 器,配合各種探頭使用,可以簡(jiǎn)單、快速地測量涂鍍層的厚度。FISCHERSCOPE® MMS® PC, 集成了磁感應法、渦流法和BETA背反射法的多功能測量系統,用于測量鍍層厚度和材料測試。FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 基于X射線(xiàn)熒光法,用于測量鍍層厚度和材料分析 。 篤摯儀器 為客戶(hù)提供廣泛的產(chǎn)品選擇。以有效的方式滿(mǎn)足客戶(hù)的需求。產(chǎn)品和務(wù)價(jià)格實(shí)惠,歡迎電詢(xún)! 我公司還經(jīng)營(yíng)世界的進(jìn)口全新設備如:英國泰勒霍普森 (Taylor Hobson)、捷克吉爾斯派克 (gearSpect Group)、德國菲希爾 (Helmut Fischer)、德國EPK、荷蘭InnovaTest、瑞士TRIMOS、美國奧林巴斯( Olympus)、美國雷泰( Raytek)等世界較有名廠(chǎng)家生產(chǎn)的粗糙度儀、圓柱齒輪測量?jì)x、涂鍍層測厚儀、各種硬度計、測高儀、超聲波探傷儀、DO-2 K PC錐齒輪單面嚙合測量?jì)x等。 涂鍍層測厚儀: | 膜厚測量: 無(wú)論是在鐵磁性材料上還是在非鐵磁性材料上測量涂層厚度或電鍍層厚度,您都可以在FISCHER功能強大的手持式儀器分類(lèi)中找到合適的便攜式測厚儀。無(wú)論您有什么樣的測量需求,又或者要面對多少種不同的基體材料, FISCHER 的儀器和探頭必能讓您的測量手到擒來(lái)。根據您的需求選擇合適的型號,點(diǎn)擊查看詳細信息,如有任何疑問(wèn),或是想了解fischer更多產(chǎn)品信息,如:可選探頭、校準片、X-RAY膜厚儀、孔隙率測試儀等歡迎在線(xiàn)留言或電詢(xún)! |
fischer膜厚儀MP0 | | 膜厚儀MP0R/MP0R-FP | 小巧、便攜、耐用的雙功能涂層測厚儀: •無(wú)需校準即可測量。 •執行簡(jiǎn)易的零點(diǎn)校正 •統計功能(含平均值/標準偏差/大值/小值) •快速的單手操作:置于工件上即可看到測量讀數 •兩個(gè)背光LCD顯示屏,可方便地在儀器的任何位置 •自動(dòng)開(kāi)機/關(guān)機功能 •加固處理及有硬質(zhì)鍍層的探頭,儀器經(jīng)久耐用 •連續測量模式可掃描工件涂鍍層厚度如:大容器結構 | | 通過(guò)USB端口可以與電腦相連,探頭由連接電纜連接: ※ 儀器集成了探頭,便于操作,出色的重復精度 ※ 快速的單手操作:置于工件上即可看到測量讀數 ※ 兩個(gè)背光液晶顯示屏,從各個(gè)角度讀取測量值 ※ 具有非磁性基材的導電率補償 ※ 記錄測量值時(shí)可以發(fā)出聲音和視覺(jué)的信號 ※ 通過(guò)按鈕進(jìn)行統計評估: ※ 至多可存儲10000個(gè)數據 ※ 應用廣泛:防腐蝕、油漆、建筑、造船工業(yè)等 |
FMP10 | FMP20 | | FMP30 | FMP40 | | 手持式FMP系列是基于磁感應法(DELTACOPE),電渦流(ISOSCOPE)和兩用方法(DUALSCOPE), 采用了可更換探頭的設計,非常適用于對涂鍍層進(jìn)行無(wú)損測量。儀器的模塊化設計,可供客戶(hù)根據不同的測量需求選配不同的測量系統.除了眾多的測厚儀機型之外, FISCHER公司還向客戶(hù)提供大量不同功能的高精度探頭. DeltascopeFMP10和FMP30機型適用于測量鐵基體上涂鍍層厚度。 Isocope FMP10和FMP30機型是專(zhuān)為高精度測量非鐵 金屬上的超薄涂鍍層厚度而設計的。Dualscope FMP20和FMP40機型可以測量幾乎所有金屬底材上的涂鍍層厚度。 | | FMP10和FMP20型測厚儀是專(zhuān)業(yè)便攜式測量系統中的入門(mén)級機型,是現場(chǎng)檢查和控制測量的理想選擇。它們操作簡(jiǎn)便,機體堅固并配有一塊高對比度彩色顯示屏和一個(gè)USB端口,可以輕松地將測量數據傳輸到電腦,并通過(guò)便利的FISCHER DataCenter軟件進(jìn)行計算和儲存.FMP30和FMP40型儀器為測量數據的獲取提供了多的策略,為儲存客戶(hù)自定義的測量應用提供更多的空間多可以?xún)Υ?0000個(gè)數據,更是提供了藍牙數據傳輸功能。大量的圖形和統計功能使其能更適用于復雜的測量應用. 另外儀器可以根據內置的IMO PSPC、SSPC-PA2,QUALANOD 和 QUALICOAT規則進(jìn)行測量。 |
| Dualscope FMP100/150 | | Dualscope FMP100是一款功能強大、界面友好的涂鍍層測厚儀,可以滿(mǎn)足眾多不同的測量需求。它集成了磁感應法和電渦流法于一體并可裝配各種不同的高精度探頭,即使在不斷變化的測量條件下,它都能很好的完成各種測量任務(wù)。它采用的Windows™ CE操作系統,擁有圖形用戶(hù)界面和高分辨率的觸摸顯示屏,并配備了可儲存幾千個(gè)測量程式的存儲空間和眾多的統計計算功能,使其成為專(zhuān)業(yè)涂鍍層測試領(lǐng)域的*解決方案。無(wú)論是用于汽車(chē)業(yè)、電鍍業(yè)、陽(yáng)極氧化應用、防腐層耐用性測試還是精細涂層領(lǐng)域,在所有情況下,這款儀器一定會(huì )為您提供高的準確度和準確性。DualscopeFMP150進(jìn)一步配備了第三種測量原理,即磁性法。它除了采用磁感應法和電渦流法測量涂鍍層厚度外,還可以測量非磁性金屬底材上鎳鍍層的厚度。 |
SR-SCOPE® RMP30-S銅箔測厚儀 | | COULOSCOPE® CMS2庫侖測厚儀 | | | | 通過(guò)電阻法無(wú)損測量印制電路板上銅鍍層的厚度。由于儀器能不受中間銅層和背面銅層的影響,因而特別適合多層板及超薄板上頂層銅箔厚度的測量。 | | CMS 型儀器可以快速、準確地測量任何基材上幾乎所有金屬鍍層的厚度,甚至是多鍍層的厚度。它的測量是一個(gè) 通過(guò)庫侖法進(jìn)行反電鍍的過(guò)程。儀器采用了菜單式界面、 操作簡(jiǎn)便是對電鍍產(chǎn)品質(zhì)量監控和來(lái)料檢驗的理想選擇。CMS2 STEP型儀器用于對鍍層厚度和電位差進(jìn)行標準化 STEP測試。 例如:對多層鎳產(chǎn)品的質(zhì)量控制。STEP (Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination) 是一種針對多層鎳系統,在測量每個(gè)單獨的鍍層厚度的同時(shí)還能測定相鄰鍍層的電位差的方法。對于鍍層厚度的測量是基于庫侖法,而電位曲線(xiàn)則是使用帶有AgCl鍍層的銀制參比電極進(jìn)行測量。 | PHASCOPE® PMP10/PMP10 Duplex | | | | 主要用于在電鍍和PCB行業(yè)中對各種基材上的金屬鍍層的厚度進(jìn)行質(zhì)量控制。無(wú)論樣品表面是否平滑, PMP10都可以準確測量鐵基材上的鍍鎳層、鍍銅層和鍍鋅層的厚度; 它還能對印制電路板上的銅層厚度,甚至是孔內銅層的厚度進(jìn)行測量。PMP10 Duplex型儀器是專(zhuān)為汽車(chē)行業(yè)測量雙鍍層而開(kāi)發(fā)的(例如:油漆/Zn/Fe)通過(guò)一次測量就能同時(shí)獲得和顯示兩層涂鍍層各自的厚度。它還可以測量鋁材上油漆層的厚度。 | | |
FischerScope MMS/FischerScope MMS PC2 | 帶內置 Windows™ CE操作系統和網(wǎng)絡(luò )互聯(lián)功能的臺式多功能測量系統,尤其適合于無(wú)損,高精度的鍍層厚度測 量及材料測試。操作 MMS PC2可以使用大尺寸且高分辨率的彩色觸摸屏,或是鍵盤(pán)和鼠標。帶有LANUSB接口,可集成于自動(dòng)生產(chǎn)線(xiàn)中。此外,可以同時(shí)使用多8個(gè)探頭進(jìn)行測量。MMS PC2的模塊化設計,允許對儀器按客戶(hù)的 要求進(jìn)行配備,并可以在需要的時(shí)候配備其它的模塊和探頭 進(jìn)行升級改進(jìn)根據需求可以在儀器上采用不同的測量方法 ,如電渦流法、磁性法、感應法或電阻法等。能測量金屬 上幾乎所有材料的鍍層厚度,以及非電材料上的金屬鍍層 厚度。它還可以用來(lái)測定非鐵磁金屬的電導率和測量奧氏體或雙相鋼材中的鐵素體含量。 使用BETASCOPE® 模塊,可按 beta 背散射方法測量不同底材上有機物和金屬鍍層的厚度,也就意味著(zhù)可以測量任意底材上的任意涂層,只要兩材料間的原子序數差達到5以上。配上適合的探頭,出于質(zhì)量控制目的,甚至能測量軟性鍍層和潤滑鍍層的厚度,如不銹鋼上的有機納膜(防指紋膜)或是金屬板生產(chǎn)加工過(guò)程中的防銹油層。 | |
在配備了合適的測量模塊后, MMS PC2可靈活運用于來(lái)料檢驗,出廠(chǎng)檢驗,或是生產(chǎn)控等。能提供多種數據報告方式,并通過(guò)FISCHER的FDD軟件進(jìn)行質(zhì)量過(guò)程控制.還可以方便建立自動(dòng)測量,因為測量系統可以直接控制馬達的測量臺或XY樣品臺,并通過(guò)LAN及I/O模塊嵌入自動(dòng)生產(chǎn)線(xiàn)。 |
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產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字: fischer膜厚儀 fischer 涂鍍層測厚儀 膜厚測量 |
如果你對無(wú)損檢測fischer膜厚儀感興趣,想了解更詳細的產(chǎn)品信息,填寫(xiě)下表直接與廠(chǎng)家聯(lián)系: |
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