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    Fischer測(cè)厚儀代理V1FGA1HR34磁感應(yīng)探頭:貨號(hào)604-183。帶微處理芯片智慧型插拔式磁感應(yīng)探頭。特殊的探頭用于測(cè)量直徑大于7mm的軸套或管子內(nèi)部。手柄到測(cè)量元件的長(zhǎng)度為100mm,亦即可測(cè)量的*大距離。

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  • fischer fmp20+探頭fd10(604-143)測(cè)厚儀

    fischer fmp20+探頭fd10(604-143)測(cè)厚儀 DUALSCOPE FMP20操作簡(jiǎn)便,機(jī)體堅(jiān)固并配有一塊高對(duì)比度彩色顯示屏和一個(gè)USB端口,可以輕松地將測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)诫娔X,并通過(guò)便利的FISCHER DataCenter軟件進(jìn)行計(jì)算和儲(chǔ)存。

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  • fischer銅厚測(cè)量?jī)x sr-scope rmp30-s

    fischer銅厚測(cè)量?jī)x sr-scope rmp30-s SR-SCOPE RMP30-S 該便攜式設(shè)備采用4點(diǎn)電阻法,十分適合測(cè)量多層電路板上薄鍍層的厚度。這種電路板上的多層銅鍍層通常被環(huán)氧樹脂等絕緣體隔開。SR-SCOPE 的優(yōu)勢(shì)是利用電阻法測(cè)量不會(huì)受到其他層的影響,因此能夠準(zhǔn)確測(cè)定最上層面銅層的厚度。

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  • fischer ferritscope-菲希爾鐵素體分析儀

    fischer ferritscope-菲希爾鐵素體分析儀 篤摯儀器代理供應(yīng)*鐵素體分析儀,鐵素體測(cè)試儀,奧氏體和雙相鋼不銹鋼鐵素體分析儀,奧氏體不銹鋼焊縫中δ鐵素體的存在會(huì)影響焊縫的強(qiáng)韌性、耐腐蝕性及焊接性,工程現(xiàn)場(chǎng)的焊接過(guò)程通常借助鐵素體含量測(cè)定儀來(lái)控制δ鐵素體的含量。

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  • 測(cè)厚儀fischer fmp20+探頭fd10(604-143)

    測(cè)厚儀fischer fmp20+探頭fd10(604-143) FMP20 型儀器是專業(yè)便攜式測(cè)量系統(tǒng)中的入門級(jí)機(jī)型,是現(xiàn)場(chǎng)檢查和控制測(cè)量的理想選擇。DUALSCOPE FMP20機(jī)型可以測(cè)量幾乎所有金屬底材上的涂鍍層厚度:可以測(cè)量鐵材或鋼材上非鐵磁金屬鍍層的厚度,例如:鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、搪瓷和塑料鍍層。也可以測(cè)量非鐵磁金屬基。材上涂料、油漆、塑料涂層和陽(yáng)極氧化層的厚度。

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  • 菲希爾Fischer MP0R測(cè)厚儀*總代理

    菲希爾Fischer MP0R測(cè)厚儀*總代理 篤摯儀器代理供應(yīng)的德國(guó)*菲希爾Fischer MP0R測(cè)厚基于自動(dòng)的基材識(shí)別功能和兩種測(cè)量法的結(jié)合(磁感應(yīng)/渦流,符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn)),此通用型設(shè)備不僅可以對(duì)鐵/鋼上的多種涂層進(jìn)行測(cè)量還可以對(duì)非鐵金屬上的涂層進(jìn)行測(cè)量。德國(guó)MPO涂層測(cè)厚儀符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T

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  • fischerscope mms pc2電子行業(yè)銅厚測(cè)厚儀

    fischerscope mms pc2電子行業(yè)銅厚測(cè)厚儀 這一插入式模塊采用了微電阻方法,適合于測(cè)量多層板上表面銅鍍層的厚度。尤其是薄的層積板,也是組成多層印刷線路板的起始材料上的銅鍍層,以及帶環(huán)氧間隙層的多層板上銅鍍層的厚度。銅的厚度在0.1至10 µm (0.04 至0.4 mils) 以及5至120 µm (0.2至4.7 mils),不受中間銅層的干擾。

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  • 鐵素體檢測(cè)儀什么品牌好

    鐵素體檢測(cè)儀什么品牌好 擁有50多年的經(jīng)驗(yàn),位于德國(guó)Sindelfingen的HelmutFischer GmbH公司在涂鍍層測(cè)厚、材料測(cè)試、硬度測(cè)試、電導(dǎo)率和鐵素體含量測(cè)試、氧化膜致密性和孔隙率測(cè)試方面是處于**地位的專家。憑借廣泛的經(jīng)驗(yàn),與工業(yè)和研究部門的密切合作,可以為客戶的特定項(xiàng)目提供理想的解決方案。

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  • 無(wú)損鍍銀測(cè)厚儀 fischer x-ray xdl 230

    無(wú)損鍍銀測(cè)厚儀 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射線熒光光譜法(EDXRF)作為鍍層厚度測(cè)量和材料分析的方法,可用來(lái)定量和定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測(cè)量。無(wú)論是在實(shí)驗(yàn)室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中,這一方法都能完美勝任,并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。

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    新一代德國(guó)Fischer測(cè)厚儀MP0問(wèn)世 德國(guó)菲希爾MP0測(cè)厚儀采用廣受認(rèn)可的Fischer探頭技術(shù),是一款小巧卻能大大程度上滿足您的測(cè)量需求的儀器。

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  • Fischer(菲希爾)庫(kù)倫測(cè)厚儀總代理

    Fischer(菲希爾)庫(kù)倫測(cè)厚儀總代理 庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量,現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度,包括多鍍層結(jié)構(gòu)

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  • 德國(guó)Fischer金屬渦流電導(dǎo)率儀

    德國(guó)Fischer金屬渦流電導(dǎo)率儀 一款采用渦流法測(cè)量非鐵金屬或非磁性金屬如鋁,銅和不銹鋼等的電導(dǎo)率的儀器。此外,基于測(cè)量電導(dǎo)率,還可得出關(guān)于硬度和熱處理的材料強(qiáng)度方面的結(jié)論。也可以確定熱損傷和材料疲勞。

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  • fischerscope膜厚儀代理

    fischerscope膜厚儀代理 FISCHERSCOPE X-RAY XDL /XDLM系列與XUL/XUUM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器,準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測(cè)量。XDLM型號(hào)的X射線源采用微聚焦管,可以測(cè)量細(xì)小的部件,對(duì)低輻射組分有較好的激勵(lì)作用。

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