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無(wú)損鍍銀測厚儀 fischer x-ray xdl 230

能量散射X射線(xiàn)熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來(lái)定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。無(wú)論是在實(shí)驗室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能完美勝任，并還可以與現代化設備一起發(fā)揮作用。

應用范圍：
無(wú)論是電鍍廠(chǎng)的簡(jiǎn)單的鍍層厚度測量（例如鐵上鍍鋅），還是鍍液分析，復雜的多鍍層應用， 非常復雜的貴金屬分析或痕量分析（RoHS），一個(gè)軟件程序就可以完成所有的測量應用：WinFTM。

儀器描述：

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關(guān)：兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線(xiàn)管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。
XDLM型號的X射線(xiàn)源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動(dòng)切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創(chuàng )造理想的激勵條件。

兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點(diǎn)，由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數率，確保良好的重復精度。
比較XUL和XULM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設計為用戶(hù)友好的臺式機，使用模塊化結構，也就是說(shuō)它們可以配備簡(jiǎn)單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求。

特征

• 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線(xiàn)管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線(xiàn)管。*高工作條件:50KV,50W
• X射線(xiàn)探測器采用比例接收器
• 準直器：固定或4個(gè)自動(dòng)切換，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
• 基本濾片：固定或3個(gè)自動(dòng)切換
• 測量距離可在0-80 mm范圍內調整
• 固定樣品支撐臺 ，手動(dòng)X(jué)Y工作臺
• 攝像頭用來(lái)查看基本射線(xiàn)軸向方向的測量位置?？潭染€(xiàn)經(jīng)過(guò)校準，顯示實(shí)際測量點(diǎn)大小。
• 設計獲得許可，防護全面，符合德國X射線(xiàn)條例第4章第3節

典型應用領(lǐng)域

• 大批量電鍍件測量
• 防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
• 電鍍行業(yè)槽液分析
• 線(xiàn)路板行業(yè)如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
• 測量接插件和觸點(diǎn)的鍍層
• 電子和半導體行業(yè)的功能性鍍層測量
• 黃金，珠寶和手表行業(yè)

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