無(wú)損鍍銀測厚儀 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射線(xiàn)熒光光譜法(EDXRF)作為鍍層厚度測量和材料分析的方法,可用來(lái)定量和定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。無(wú)論是在實(shí)驗室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中,這一方法都能完美勝任,并還可以與現代化設備一起發(fā)揮作用。
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