微電腦多功能電解測厚儀 CMS2 /CMS2 STEP 一個(gè)測量系統包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一個(gè)有測量槽的支架(例如:STEP測量槽) 。各種測量臺設計適合不同的應用。 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度,包括多鍍層結構; 在多層鎳的量監控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試。
查看詳細介紹多功能電解質(zhì)測厚儀COULOSCOPE CMS2 作為測量鍍層厚度*簡(jiǎn)單的方法之-一,庫侖法可以用于各種鍍層組合。尤其對于多鍍層結構,當 允許破壞性測量時(shí),它提供了一個(gè)比X射線(xiàn)更經(jīng)濟的替代方法。強大并且用戶(hù)友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監控和成品的質(zhì)量檢驗
查看詳細介紹cms2-step微電腦多功能電解測厚儀 庫侖法是一種簡(jiǎn)單易行的電化學(xué)分析方法,可用于確定金屬涂層的厚度。 盡管該方法主要用于檢查電鍍涂層的質(zhì)量,但它也適用于檢測印刷電路板上剩余純錫的厚度。
查看詳細介紹微電腦多功能電解測厚儀Couloscope CMS2 德國FISCHER菲希爾COULOSCOPE CMS2庫倫法測厚儀-----根據庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差。庫侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。
查看詳細介紹費希爾多功能電解測厚儀基本款 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層,通過(guò)在控制電流條件下電解腐蝕--------實(shí)際上就是電鍍的反過(guò)程。
查看詳細介紹微電腦多功能電解測厚儀STEP 庫侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應用于檢查電鍍層的質(zhì)量,現在也適用于監控印刷線(xiàn)路板剩余純錫的厚度。
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