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  無(wú)損鍍銀測厚儀 fischer x-ray xdl 230

  無(wú)損鍍銀測厚儀 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射線(xiàn)熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來(lái)定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。無(wú)論是在實(shí)驗室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能完美勝任，并還可以與現代化設備一起發(fā)揮作用。

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  多層鍍鎳鍍銀測厚儀（電解破壞式）

  多層鍍鎳鍍銀測厚儀（電解破壞式） 庫侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現在也適用于監控印刷線(xiàn)路板剩余純錫的厚度。

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  電鍍銀測厚儀Couloscope CMS2 庫侖儀

  電鍍銀測厚儀Couloscope CMS2 庫侖儀 COULOSCOPE CMS2 庫侖法測厚儀的儀器通過(guò)電解去除層來(lái)測量涂層厚度。 特別地，庫侖法可以用于地確定任何種類(lèi)的基底上的多層。

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