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涂鍍層測(cè)厚儀DELTASCOPE FMP30功能 ISOSCOPE@ FMP30配 合FTA3.3探頭-測(cè)量輕合金邊緣，DELTASCOPE8 FMP30配合雙觸點(diǎn)探頭V7FKB4一測(cè)量卡車剎車盤，DUALSCOPE@ FMP40配合FD13探頭一測(cè)量各種小零件
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PHASCOPE PMP10 DUPLEX 測(cè)量油漆和鍍鋅層 該設(shè)備可通過單次測(cè)量精確測(cè)定各涂層的厚度，從而節(jié)省時(shí)間和成本。PMP10 特別適用于電鍍或電路板行業(yè)，可用于檢查各種底材上的導(dǎo)電鍍層。PHASCOPE PMP10 DUPLEX與ESG20探頭一起專門開發(fā)用于汽車行業(yè)測(cè)量雙相涂層（鋼鐵或鐵上的油漆/鋅）。
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德國Fischer FMP30系列多個(gè)應(yīng)用程序測(cè)厚儀 DELTASCOPE® 用于鋼和鐵上的涂鍍層 ISOSCOPE® 用于鋁和其他非鐵磁性金屬上的涂鍍層 DUALSCOPE® 具有自動(dòng)底材識(shí)別并兼具兩種測(cè)量方法（磁感應(yīng)和渦流）；DUALSCOPE 可測(cè)量鐵/鋼或非鐵磁性金屬以及非導(dǎo)電底材上的多種涂鍍層 非鐵磁性金屬、鐵或鋼上的微米級(jí)涂鍍層 使用非鐵磁性金屬制成的厚涂層或鋼上的保護(hù)涂鍍層
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PHASCOPE PMP10測(cè)厚儀探頭型號(hào)描述 ESL080是一個(gè)針尖形狀的測(cè)量探頭，測(cè)量時(shí)需要插入通孔內(nèi) （如上圖片）。一個(gè)外部的金屬護(hù)套保護(hù)測(cè)量線圈不受腐蝕和機(jī)械損壞。這一獲得**的測(cè)量探頭設(shè)計(jì)為感應(yīng)出的渦流是沿著銅套管的縱向軸流動(dòng)的。這樣銅板層的直徑就對(duì)測(cè)量沒有影響，環(huán)形圈的尺寸也只有很小的影響。
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測(cè)鍍銀厚度儀-Fischer Couloscope CMS2 庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu);它的工作原理是根據(jù)陽極溶解的庫侖法。
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菲希爾磁感應(yīng)測(cè)厚儀探頭 菲希爾Fischer探頭FGAB1.3訂貨號(hào)：604-141，測(cè)量范圍：0 - 2000 μm.帶微處理芯片的智慧型插入式磁感應(yīng)探頭。若需要時(shí)，可修改存儲(chǔ)器。并有抗磨損涂層。電纜長度：1.5m（5 feet）.
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電阻率儀有色金屬電導(dǎo)率菲希爾smp350 金屬電導(dǎo)率儀使用范圍:鋁，銅加工工業(yè)中的電導(dǎo)率測(cè)試;在航空航天和汽車工業(yè)中，監(jiān)控?zé)崽幚磉^程，鍛鋁合金的強(qiáng)度和硬度;鋁陽極氧化之前電導(dǎo)率檢驗(yàn);檢驗(yàn)材料純度等級(jí)和廢料分選。
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SigmaScope SMP350 電導(dǎo)率測(cè)試儀篤摯代理 SigmaScope SMP350是一款結(jié)構(gòu)緊湊的手持式設(shè)備，適用于測(cè)定非鐵磁性金屬（如鋁或銅）的電導(dǎo)率。通過測(cè)得的電導(dǎo)率能夠進(jìn)一步得出與熱處理材料的硬度與強(qiáng)度相關(guān)的結(jié)論。從而建立熱損傷與材料疲勞的證據(jù)。
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菲希爾渦流測(cè)厚儀FMP10搭配探頭FTA-3.3H ISOSCOPE FMP10氧化膜測(cè)厚儀它能快速、無損傷、精頦地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測(cè)量。ISOSCOPE FMP10氧化膜測(cè)厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域
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汽車車身油漆厚度測(cè)厚儀DualScope MP0 DUALSCOPE® MP0涂鍍層測(cè)厚儀基于自動(dòng)的基材識(shí)別功能和兩種測(cè)量法的結(jié)合（磁感應(yīng)/渦流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn)），此通用型設(shè)備不僅可以對(duì)鐵/鋼上的多種涂層進(jìn)行測(cè)量還可以對(duì)非鐵金屬上的涂層進(jìn)行測(cè)量
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華東代理fischer xdl-b鍍層測(cè)厚儀 FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測(cè)量方向從上往下，單一鍍層、二元合金層、三元合金層和雙鍍層例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/C
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多功能電解質(zhì)測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2 作為測(cè)量鍍層厚度*簡單的方法之-一，庫侖法可以用于各種鍍層組合。尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu)，當(dāng) 允許破壞性測(cè)量時(shí)，它提供了一個(gè)比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。強(qiáng)大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn)
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Fischer鐵素體校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片 套件（含證書） Helmut Fischer提供鑒定過的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片供客戶校準(zhǔn)儀器，這些標(biāo)準(zhǔn)片可以追溯到TWI二級(jí)標(biāo)準(zhǔn)片。標(biāo)準(zhǔn)片上標(biāo)明了兩種單位：鐵素體個(gè)數(shù)FN和百分比含量%Fe?？赏ㄟ^發(fā)貨前設(shè)置修正系數(shù)或用客戶定制的標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)儀器來減少工件幾何形狀（曲率、厚度等）對(duì)測(cè)量的影響
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德國FISCHER公司X-RAY熒光測(cè)厚儀 HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。 通過對(duì)所有相關(guān)過程包括X射線熒光測(cè)量法的精確處理和使用了新的軟件和硬件技術(shù)，F(xiàn)ISCHER 公司的X射線儀器具有其*的特點(diǎn)
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fischer elektronik測(cè)厚儀代理現(xiàn)貨 涂鍍層測(cè)厚儀 別名：涂層測(cè)厚儀，鍍層厚度測(cè)量儀，涂鍍層厚度無損測(cè)量儀，手持式涂鍍層測(cè)厚儀，表面電鍍層厚度測(cè)量儀，油漆涂層測(cè)厚儀，便攜式涂層測(cè)厚儀，*涂層測(cè)厚儀，無損測(cè)厚儀，覆層測(cè)厚儀。。。
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德國HELMUT FISCHER鐵素體含量測(cè)量儀 Feritscope FMP30采用磁導(dǎo)原理，鐵素體含量是通過磁導(dǎo)率確定。主要性能參數(shù)是通過在較有名實(shí)驗(yàn)室里大量實(shí)驗(yàn)樣件的基礎(chǔ)上得到，并存儲(chǔ)在儀器內(nèi)。通過正確校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)試塊測(cè)量鐵素體含量，測(cè)量的精度得到改進(jìn)、提高。
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菲希爾smp350 SIGMASCOPE®SMP350 根據(jù)渦流相位法DIN EN 2004-1 和 ASTM E 1004 測(cè)量電導(dǎo)率。 這種方法允許無接觸測(cè)量，即使隔著油漆或者厚達(dá)500μm的塑料涂層，這種方法也幾乎不受表面粗糙度的影響。
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涂層測(cè)厚儀fmp10價(jià)格 FMP10和FMP20體現(xiàn)了全新FMP系列手持式儀器準(zhǔn)確的測(cè)量技術(shù)。這些用戶界面友好又堅(jiān)固耐用的儀器配合可更換的探頭使用可以滿足您的測(cè)量要求
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電位測(cè)厚COULOSCOPE CMS2 STEP CMS2 STEP 的特征是 STEP 測(cè)試功能（同時(shí)測(cè)定厚度和電位差）。 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化 STEP 測(cè)試 （根據(jù) ASTM B764-94和 DIN 50022）。
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進(jìn)口孔銅測(cè)厚儀SR-SCOPE RMP30-S SR-SCOPE® SR-SCOPE® 測(cè)量線路板正面上的銅涂層厚度，根據(jù)微電阻法符合 EN 14571 的標(biāo)準(zhǔn)。特別適用于測(cè)量多層或是較薄的板材上的銅厚，因?yàn)樵摐y(cè)量法保證了兩面相對(duì)的銅層不會(huì)相互影響測(cè)量結(jié)果
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德國菲希爾FISCHER
菲希爾測(cè)厚儀